BeNano Zeta 电位分析仪是测量颗粒体系 Zeta 电位的光学检测系统。BeNano Zeta 系统基于电泳光散射原理,样品分散在样品池中,在样品池两端施加一个电场,通过激光照射到电场中的样品上,光电检测器在 12°角检测样品颗粒电泳运动造成的散射光的多普勒频移,进而得到体系的 Zeta 电位信息。
基本性能指标
Zata电位测试
原理 |
相位分析光散射技术
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检测角度
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12°
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Zeta范围
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无实际限制
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电泳迁移率范围
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> ±20 μ.cm/V.s
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电导率范围
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0-260 mS/cm
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Zeta测试粒径范围
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2 nm – 110 μm
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样品量
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0.75 mL – 1.0 mL
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趋势测试
系统参数
温控范围
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-15℃-110℃
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冷凝控制
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干燥空气或者氮气
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标准激光光源
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50 mW 高性能固体激光器, 671 nm
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相关器
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最多 4000通道,1011动态线性范围
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检测器
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APD (高性能雪崩光电二极管)
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光强控制
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0.0001% - 100%,手动或者自动
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软件
检测参数
●Zeta 电位
●Zeta 电位分布
检测技术
●电泳光散射
●相位分析光散射
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