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导热硅脂工频介电常数介质损耗测试仪

导热硅脂工频介电常数介质损耗测试仪


    产品概述

    导热硅脂工频介电常数介质损耗测试仪每一 00增档0 容0V档有量,十A51:二加共V5 ,

    1 Ax01 m0a2Ωm≤× 010 1

    注:湿度的显著影响常常发生在1MHz以下及微波频率范围内。

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    高路压保护·短

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    保TC·V护过压

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    V ω= IC

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    说压电明作工

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    导热硅脂工频介电常数介质损耗测试仪

    量量范目量测围测差测误



    最大的误差来自试样尺寸的误差,尤其是试样厚度的误差,因此厚度应足够大,以满足测量所需要的精确度。


    1RgxR C(ωgngC=n4+δt /或/ )C C UΔΔ+I//C

    技的:特术辅性桥

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    量pxF0F±0容5—电 02%p0p±2 C0C40x.F

    桥3 31(值48 4Ω 阻欧 臂R R姆)

    其结果使电容率、介质损耗因数和直流电导率增大。因此试验前和试验时针对环境湿度进行控制是B不可少的。

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    在较高的频率下,只要电介质中不出现局部放电,电容率和介质损耗因数与电场强度无关。试样和电极固体绝缘材料试样的几何形状。

    不101~V效值电真有(失宗根压)

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    但是对于更高精确度,最好是采用较厚的试样,例如6mm~12mm,测量厚度必须使测量点有规则地分布在整个试样表面上。

    1~F .p50 0μp5μ.V kFk 高31 :0/ 6 0 外F施~F3V/ 压


    差量量测测误项围目范测量

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    且厚度均匀度在±1%内,如果材料的密度是已知的,则可用称量法测定厚度。选取试样的面积时应能提供满足精度要求的试样电容。

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    1A用不高顶流1在,电的臂下电对B超R,V过超过盘点压3,桥各中不使电桥Z列规本的V:定

    测量10pF的电容时,使用有良好屏蔽保护的仪器,由于现有仪器的极限分辨能力约1pF,因此试样应薄些。

    电场强度存在界面极化时,自由离子的数目随电场强度增大而增加,其损耗数量最大值的大小和位置也随此而变。


    电容品 )F p 值拉被Cx(测 试法

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    时03C3(Ω) 41p1 F在 n R=0=8 .

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    测定材料的电容率和介质损耗因数,最好采用板状试样,也可采用管状试样。在测定电容率需要较高精度时。


    a5k1 x1 Ωm01×m 1≤ A

    电桥量敏测灵度