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绝缘介电常数介质损耗因数测试仪

绝缘介电常数介质损耗因数测试仪


    产品概述

    绝缘介电常数介质损耗因数测试仪主要技术指标:

    2.1 tanδ和ε性能:

    2.1.1 固体绝缘材料测试频率10kHz~120MHz的tanδ和ε变化的测试。

    2.1.2 tanδ和ε测量范围:

    tanδ:0.1~0.00005,ε:1~50

    2.1.3 tanδ和ε测量精度(1MHz):

    tanδ:±5%±0.00005,ε:±2%

    工作频率范围:50kHz~50MHz 四位数显,压控振荡器

    Q值测量范围:1~1000三位数显,±1Q分辨率

    可调电容范围:40~500 pF ΔC±3pF

    电容测量误差:±1%±1pF

    Q表残余电感值:约20nH

    绝缘介电常数介质损耗因数测试仪测介电常数

    调节平板电容器测微杆,使二极片相接为止,读取刻度值记为DO

    再松开二极片,把被测样品插入二极片之间,调节平板电容器,到二极片夹住样品止(注意调节时要用测微杆,以免夹得过紧或过松),这时能读取新的刻度值,记为D1,这时样品厚度D2= D1D0

    选钮8顺时针拧到头。

    开机,按5号键或6号键选择电感;按照提示,通过选钮7调节通道。

    1号键(自动)搜索频率,Q达到zui大,自动锁定频率。

    (如Q比较小,再次按1号键搜索频率;还可以通过34号键手动调节频率找到*谐振频率)

    取出平板电容器中的样品(切记不要调节频率),这时Q表又失谐,调节平板电容器,使再谐振(只调节平板电容,不调节频率,Q再次达到zui大),读取测微杆上的读值D3,其变化值为D4= D3D0

    被测样品的介电常数:Σ=D2 / D4

    主要特点:空洞共振腔适用于CCL/印刷线路板,薄膜等非破坏性低介电损耗材料量测。 印电路板主要由玻纤与环氧树脂组成的, 玻纤介电常数为5~6, 树脂大约是3, 由于树脂含量, 硬化程度, 溶剂残留等因素会造成介电特性的偏差, 传统测量方法样品制作不易, 尤其是薄膜样品( 小于 10 mil) 量测值偏低,

    电感器:

    按测试频率要求,需要配置不同量的电感器。

    例如:在1MHz测试频率时,要配250μH电感器,在50MHz测试频率时,要配0.1μH电感器等。

    特点:

    ◎ 本公司创新的自动Q值保持技术,使测Q分辨率至0.1Q,使tanδ分辨率至0.00005 。

    ◎ 能对固体绝缘材料在10kHz~120MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。

    ◎ 调谐回路残余电感值低至8nH,保证100MHz的(tanδ)和(ε)的误差较小。

    ◎ 特制LCD屏菜单式显示多参数:Q值,测试频率,调谐状态等。

    ◎ Q值量程自动/手动量程控制。

    ◎ DPLL合成发生1kHz~60MHz, 50kHz~160MHz测试信号。独立信号 源输出口,所以本机又是一台合成信号源。

    ◎ 测试装置符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。