◎ 高频阻抗分析仪电容值Cp分辨率0.00001pF和6位D值显示，保证了ε和D值精度和重复性。

◎ 介电常数测量范围可达1～10⁵

2 主要技术指标：

2.1 ε和D性能：

2.1.1 固体绝缘材料测试频率20Hz～1MHz的ε和D变化的测试。
2.1.2 ε和D测量范围：ε：1～10⁵，D：0.1～0.00005，
2.1.3 ε和D测量精度（10kHz）：ε：±2% ， D：±5%±0.0001。

2.2高频阻抗分析仪和数字电桥

仪器满足标准GB/T 1409-2006 测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法。适用于测定热塑性、热固性塑料在1MHz条件下的电容率和介质损耗因数。

2.高频电容率和介质损耗因数测试系统构成

2.1.概述：高频电容率和介质损耗因数测试系统由S916测试装置（夹具）、GDAT型高频Q表、数据采集和tanδ自动测量控件（装入GDAT)、及LKI-1型电感器组成，它依据国标GB/T 1409-2006、美标ASTM D150以及电工委员会IEC60250的规定设计制作。

2.2．《BH916介质损耗装置》(测试夹具)是测试系统的核心检测部件，它由一个LCD数字显示的微测量装置和一对经精密加工的、间距可调的平板电容器极片组成。平板电容器极片用于夹持被测材料样品，微测量装置则显示被测材料样品的厚度。通过被测材料样品放进平板电容器和不放进样品时的Q值变化的量化，测得绝缘材料的损耗角正切值。从平板电容器平板间距的读值变化则可换算得到绝缘材料介电常数。BH916介质损耗测试装置是本公司研制的更新换代产品，精密的加工设计、精确的LCD数字读出、一键式清零功能，克服了机械刻度读数误差和圆筒形电容装置不可避免的测量误差。

2.3．基于串联谐振原理的《GDAT高频Q表》是测试系统的二次仪表，其数码化主调电容器的创新设计代表了行业的zui高成就，随之带来了频率、电容双扫描GDAT的全新搜索功能。该表具有*人机界面，采用LCD液晶屏显示各测量因子：Q值、电感L、主调电容器C、测试频率F、谐振趋势指针等。高频信源采用直接数字合成,测试频率10KHz-60MH或200KHz-160MHz，频率精度高达1×10-6。国标GB/T 1409-2006规定了用Q表法来测定电工材料高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)，把被测材料作为平板电容的介质，与辅助电感等构成串联谐振因子引入Q表的测试回路，以获取zui高的测试灵敏度。因而Q表法的测试结果更真实地反映了介质在高频工作状态下的特征。

GDAT高频Q表的全数字化界面和微机控制使读数清晰稳定、操作简便。操作者能在任意点频率或电容值的条件下检测Q值甚至tanδ，无须关注量程和换算，*摒弃了传统Q表依赖面板上印制的辅助表格操作的落后状况，它无疑是电工材料高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)测量的理想工具。

2.4．数据采集和tanδ自动测量控件（装入GDAT)，实现了数据采集、数据分析和计算的微处理化，tanδ 测量结果的获得无须繁琐的人工处理，可提高数据的精确度和测量的同一性。

2.5．在系统中高品质因数（Q)的电感器与平板电容（BH916）构成了基于串联谐振的测试回路。本技术协议的系统电感器为LKI-1电感组共由9个高性能电感器组成，以适配不同的检测频率。

2.6.介质损耗测试系统主要性能参数

BH916测试装置： GDAT高频Q表：

平板电容极片 Φ50mm 可选频率范围20KHz-60MHz

间距可调范围≥15mm 频率指示误差3×10-5±1个字

夹具插头间距25mm±0.01mm 主电容调节范围30-500

测微杆分辨率0.001mm 主调电容误差<1%或1pF

夹具损耗角正切值≦4×10-4 （1MHz) Q测试范围2～1023