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BDAT-a低频介电常数测试仪

BDAT-a低频介电常数测试仪


    产品概述

    三.仪器技术指标:
    ☆Q值测量:
    a.Q值测量范围:2~1023。 b.Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档。
    c.标称误差
    频率范围:20kHz~10MHz; 固有误差:≤5%±满度值的2%;工作误差:≤7%±满度值的2%;
    频率范围:10MHz~60MHz; 固有误差:≤6%±满度值的2%;工作误差:≤8%±满度值的2%。
    ☆电感测量:
    a.测量范围:14.5nH~8.14H。
    b.分 档:分七个量程。
    0.1~1μH, 1~10μH, 10~100μH,
    0.1~lmH, 1~10mH, 10~100mH, 100 mH~1H。
    ☆电容测量:
    a.测量范围:1~460pF(460pF以上的电容测量见使用规则);
    b.电容量调节范围
    主调电容器:30~500pF; 准 确 度:150pF以下±1.5pF;150pF以上±1%;
    注:大于直接测量范围的电容测量见使用规则
    ☆振荡频率:
    a.振荡频率范围:10kHz~50MHz;
    b.频率分段(虚拟)
    10~99.9999kHz
    100~999.999kHz
    1~9.99999MHz
    10~60MHz
    c.频率误差:3×10-5±1个字。
    ☆Q合格指示预置功能,预置范围:5~1000。
    ☆仪器正常工作条件
    a. 环境温度:0℃~+40℃; b.相对湿度:<80%; c.电源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。
    ☆其他
    a.消耗功率:约25W; b.净重:约7kg; c. 外型尺寸:(l×b×h)mm:380×132×280。
    ☆ Q合格指示预置功能
    预置范围:5~1000。

    一.主要特点:
    空洞共振腔适用于CCL/印刷线路板,薄膜等非破坏性低介电损耗材料量测。 印电路板主要由玻纤与环氧树脂组成的, 玻纤介电常数为5~6, 树脂大约是3, 由于树脂含量, 硬化程度, 溶剂残留等因素会造成介电特性的偏差, 传统测量方法样品制作不易, 尤其是薄膜样品( 小于 10 mil) 量测值偏低,。

    二.主要技术特性:
    介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量核心采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至zui低,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。