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介电常数测试仪/介质损耗因数测试仪

介电常数测试仪/介质损耗因数测试仪


    产品概述

    电感:
    线圈号 测试频率 Q值 分布电容p 电感值
    9 100KHz 98 9.4 25mH
    8 400KHz 138 11.4 4.87mH
    7 400KHz 202 16 0.99mH
    6 1MHz 196 13 252μH
    5 2MHz 198 8.7 49.8μH
    4 4.5MHz 231 7 10μH
    3 12MHz 193 6.9 2.49μH
    2 12MHz 229 6.4 0.508μH
    1 25MHz,50MHz 233,211 0.9 0.125μH


    介电常数介质损耗试验仪满足标准:GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法


    一、介电常数介质损耗试验仪概述

    GDAT高频 Q 表作为一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器,测试频率上限达到目前高的160MHz。

    gdat高频Q表的创新设计,无疑为高频元器件的阻抗测量提供了*的解决方案,它给从事高频电子设计的工程师、科研人员、高校实验室和电子制造业提供了更为方便的检测工具,测量值更为精确,测量效率更高。使用者能在仪器给出的任何频率、任意点调谐电容值下检测器件的品质,无须关注量程和换算单位。

    主要技术特性
    Q 值测量范围 2 ~ 1023 , 量程分档: 30 、 100 、 300 、 1000 ,自动换档或手动换档
    固有误差 ≤ 5 % ± 满度值的 2 %( 200kHz ~ 10MHz ), ≤6% ± 满度值的2%(10MHz~160MHz)
    工作误差 ≤7% ± 满度值的2% ( 200kHz ~ 10MHz ), ≤8% ± 满度值的2%(10MHz~160MHz)
    电感测量范围 4.5nH ~ 140mH 电容直接测量范围 1 ~ 200pF 主电容调节范围 18 ~ 220pF 主电容调节准确度 100pF 以下 ± 1pF ; 100pF 以上

    信号源频率覆盖范围 100kHz ~ 160MHz
    频率分段 ( 虚拟 ) 100 ~ 999.999kHz , 1 ~ 9.99999MHz,10 ~ 99.9999MHz , 100 ~ 160MHz
    频率指示误差 3 × 10 -5 ± 1 个字

    搭配了全新的介质损耗装置与GDAT系列q表搭配使用
    一 . 概述

    BD916介质损耗测试装置技术特性

    平板电容器: 极片尺寸:Φ50mm/Φ38mm 可选

    极片间距可调范围:≥15mm

    2. 夹具插头间距:25mm±0.01mm

    3. 夹具损耗正切值≤4×10-4 (1MHz)

    4.测微杆分辨率:0.001mm